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PHL 应力双折射检测仪PA系列由日本Photonic lattice公司开发,具备高精度和快速测量的特点。 该设备采用光子晶体偏光阵列片和独特的双折射算法,能在几秒内完成从毫米级到接近500毫米样品的双折射测量,测量范围为0-130nm。 其特点包括操作简便、视野广阔、无需旋转光学滤片,并配备高像素偏振相机。 适用于光学镜片、智能手机玻璃基板及蓝宝石等材料的测量,支持多种分析功能和外部控制
PA-Micro 是日本 Photonic Lattice 公司推出的高精度显微双折射与应力测量系统,可搭载商用显微镜,实现 0–130 nm 相位差、光轴方位的全场高速定量检测,精度达 0.1 nm 级,Photonic lattice显微镜型应力双折射仪支持将测量结果换算为应力值,广泛用于光学玻璃、TGV孔的内应力与双折射分布分析,兼具高精度、面成像与易用性,是精密光学质检的核心设备。
WPA系列是Photoniclattice公司采用自研的光子晶体技术,开发的一款适用性高的应力双折射检测设备,可测量相位差(光程差)高达3500nm,Photonic lattice应力双折射解决方案WPA-200L适合注塑成型的透光器件的应力双折射检测,数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。
WPA系列是Photoniclattic公司采用自研的光子晶体技术,开发的一款适用性高的应力双折射检测设备,可测量相位差(光程差)高达3500nm,Photonic lattice双折射分析仪WPA-200L适合注塑成型的透光器件的应力双折射检测,数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。
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